上?？焖贉囟茸兓囼炏?/strong>適用于各種通訊產(chǎn)品、電子產(chǎn)品、光電產(chǎn)品、安防產(chǎn)品、電子元氣件等工業(yè)產(chǎn)品提供可靠性環(huán)境溫變試驗、產(chǎn)品應(yīng)力篩選等試驗，同時通過此試驗箱試驗可提高產(chǎn)品的可靠性能，針對試驗結(jié)果研發(fā)新品或進行產(chǎn)品質(zhì)量的控制。

上?？焖贉囟茸兓囼炏?/strong>技術(shù)參數(shù)：

溫變率：有5℃/min、3℃/min、8℃/min、9℃/min、10℃/min、15℃/min （有線性或非線性可選擇）

溫度范圍：-70℃~150℃（快速溫變范圍-55-85℃）

濕度范圍：20%—98% R.H.；

溫度解析度/分布度：0.01℃/±2.0℃

溫度控制度：±0.5℃

內(nèi)外部材質(zhì)：內(nèi)箱材質(zhì)為SUS304#不銹鋼板，外箱烤漆

保溫材質(zhì)：耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料

冷卻系統(tǒng)：全封閉式壓縮機組/壓縮機

符合標準：

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱技術(shù)條件